粒度分析(粒度分析标准)

如何进行数据粒度分析

方法：横向是粒径值，该数值呈对数分布。左列是体积累计百分比，对应的是上谨尺并升趋势的曲线图。右列是某一区间的体积百分比，对应的是起伏的直方图（或曲线图）。数据列表是分析图表相对应的测试结果。

拓展：

X10：颗粒累计分布祥迹为10%的粒径，即小于此粒径的颗粒体积含量占全部颗粒的10%；

X50：颗粒粒径分布为50%的粒径，即小于此粒径的颗粒体积含量占全部颗粒的50%；

X90：颗粒粒困斗径分布为90%的粒径，即小于此粒径的颗粒体积含量占全部颗粒的90%；

Xav：颗粒群的平均粒径；

S/V：体积比表面积，即单位体积颗粒的表面积；

X[3，2]：表面积平均粒径，是粒径对表面积的加权平均，又称索太尔平均径；

X[4，3]：体积平均粒径，是粒径对体积（或重量）的加权平均，同上述Xav。

什么是粒度分析

矿粒（或矿块）的大小称为粒度。破碎、磨碎和选别过程中所处理的物料，都是粒度不同的各种矿粒的混合物。将矿粒混合物按粒度分成若干级别，这些级别叫做粒级。物料中各粒级的相对含量叫做粒度组成。粒度组成的测定工作叫做粒度分析。粒度组成的测定是一项很重要的工作，在许多工业部门都常遇到。例如水泥工业斗答、冶金工业、煤粉制备、土工试验、甚至食品加工等部门，都会用到粒度分析，也是选矿试验中必不可少的一个检测项目，原矿和产品都常需进行粒度分析。没有一个粒度分析方法，可以适用于一切粒度范围，一般都是按粒度大小不同采用不同的测定方法。目前应用的各种测定方法及其适用范围如表1所示。其中有的方法得出的是粒度分布，有的方法得出的是平均直径；有的是直接测量粒度（如筛析和显微镜测定）；有的则是根据其他参数换算（如沉降速度和比表面）；有的是在气相中进行的干法，有的则是在液相中进行的湿法。表1粒度测定方法及其所适用的粒度范围选矿生产和试验研究中经常采用的粒度分析方法是筛分分析、水析和显微镜分析。对于粉状物料常常直接测定比表面（指单位重量的矿粒群的总表面积）。从比表面的测定数据可在一定假定条件下，求出平均粒度（直径）。测定比表面的主要方法有吸附法、渗透法（液体渗透法；气烂穗体渗透法）。几种粒度测定方法比较如下：筛析法的优点是设备便宜、坚固、易制、易操作，适于测定粗粒。一般干筛可筛至100微米（150目），再细建议钐湿筛，现今用光电技术制造的微孔筛可以湿筛细到10微米，但实际上小于40－60微米多半用沉降分析，前者测得的是几何尺寸，后者是具有相同沉降速度的当量球径。筛析法受颗粒形状影响很大。显微镜法直观测出颗粒尺寸和形状，因此常用于校准其它测量方法，其最佳测量范围为0.5－20微米之间，当粒度扩大到40微米以上，则易引起偏差。沉降法测量粒度的最大优点是统计性和重复性好，但受颗粒形状和结构影响很大空历慧，适用于1－75微米，不能直接观测颗粒的大小和形状。吸附法的特点是测定范围较大，但不能测出粒度分布曲线，只能间接换算出一个增均尺寸，而且受环境影响较大。渗透法是一种经济简便的粒度测量法，但可靠性和重复性差。

粒度分析方法

粒度分析方法视碎屑岩颗粒大小和岩石致密程度而异。

1.砾岩的粒度分析方法

砾岩的粒度分析主要在野外进行，一般采用筛析和直接测量两种方法。对胶结不太坚固的砾石和疏松的雀知颂砾石层，先用孔径为10 mm和1 mm的筛子过筛，小于1 mm的基质和胶结物，可带回室内进行再细分；10～1 mm的细砾部分若是含量多且差异大者，要用筛析方法进行细分；10 mm以上的砾石，一般在野外用尺子直接测量，然后将各粒级的砾石分别称重，记录于粒度分析表中。采样过程中应选择有代表性的取样地点，而且样品质量不少于25～30 kg，否则误差就会相当大。对于胶结坚固的砾岩，可在风化带上进行粒度测量；或采标本回室内，先进行胶结处理，将砾石分开，再进行粒度测量。

2.砂岩和粉砂岩的粒度分析方法

砂岩和粉砂岩的粒度分析常采用筛析法、沉速法和薄片法，常用的沉速法有阿兹尼法、沙巴宁法和罗宾逊法等。筛析法和沉速法适用于未固结的疏松岩石，如粗碎屑岩一般只用筛析法；而中—细粒碎屑岩由于常常含有较多的粉砂和黏土，常将沉速法与筛析法结合使用。薄片法主要用于固结坚硬的岩石。一般来说，筛析法适用于大于0.25 mm的颗粒，亦可用于大于0.1 mm的颗粒，而沉速法适用于小于0.25 mm的颗粒。

3.颗粒粒级的划分

一般采用伍登-温德华标准，它是以毫米为单位的一种分类方案，后来克鲁宾（1934）提出了一种对数换算（表3-1），称其为Φ值：

沉积学原理

其中，D为颗粒直径。

表3-1粒级划分标准对比表

4.薄片粒度分析

筛析法只适用于现代沉积的沙和古代固结疏松的砂岩，对不能松解的砂岩不再适用。固结的岩石，特别是硅质胶结岩石的粒度分析，只能在薄片内进行。薄片粒度分析的精度较筛析法差，因薄片内计算的颗粒比筛析的量少得多，同时分析速度慢，分析结果不能与筛析法直接对比。下面简单介绍一下薄片粒度分析的方法，薄片的制备与普通岩石薄片的制备方法相同，疏松的砂岩用胶浸煮后磨片。用作粒度分顷郑析的薄片要稍大些（3.0 cm×2.0 cm），尤其是粗粒砂岩，以便在薄片内可测量到足够的颗粒数。用作磨制薄片的标本，必须在所采集的岩层内是有代表性的。

（1）在薄片上测定粒度的方法

在薄片上采用什么方法选择欲测量的颗粒称为抽样方法，一般常用的系统抽样方法为点计法和线计法，此外，还有一种方法为带记法。

点计法常用有网格的目镜进行测量，每一方格的边长应大于薄片中颗粒的最大视直径，应用机械台使薄片通过显微镜视域，测量网格结点所触遇的颗粒粒径（图3-1）。

线计法用机械台在垂直目镜微尺的方向移动薄片，凡为十字丝竖丝触遇的颗粒都要测量。量完一行，平行横丝将薄片移动一定距离，再按上述方法测量，一直测到足够的颗粒为止。测线间隔要大于薄片内颗粒的最大视直径（图3-2）。

不同抽样方法所得出的结果不同，线计法测量时，与测线相交的颗粒的概率与测线垂直方向上的颗粒直

图3-1薄片粒度分析的点计法

径成比例；点计法测量时，与点相遇的颗粒的概率与颗粒的可见表面积成比例。

带计法将薄片放在机械台上，固定横坐标，使薄片垂直目镜微尺慢慢移动，凡是颗粒中心在目镜微尺一定读数之间的颗粒，都要按大小分类计数（图3-3）。这个带的宽度应等于或大于样品内颗粒的最大视直径。有人通过实验证明，带计法测得的结果最近似于样品内真正的粒度分布。

图3-2薄片粒度分析的线计法

图3-3薄片粒度分析的带计法

由于不同抽样方法所得的结果不能直接对比，因而不同的样品要用统计方法比较的话，必须在每个细节上使用同样的抽样方法和测定方法。最后，将测得结果填入薄片粒度统计表（表3-2）。

表3-2薄片粒度统计表

（2）各种测定直径的对比与换算

用粒度资料解释沉积环境的工作开始于对现代沉积物的研究。对于古代岩石的沉积环境分析，也可借助于岩石粒度分析同现代沉积物粒度分猛知析加以比较。

现代沉积物的粒度分析一般采用常规筛析法，所得结果为不同粒度的颗粒质量百分比。而古代岩石目前大部分只能用薄片分析法，所得结果为不同粒度的颗粒数百分比。两者不能直接对比，如果需要对比则必须进行换算。即使在同一方法中，也只能进行统计对比，绝不能进行单颗粒对比。

筛析直径与沉速分析直径之间，平均值偏差＜0.1Φ，两种方法一般不经换算可以互相使用，但在精确研究工作中则必须换算。薄片分析视直径与筛析直径之间的偏差可达到0.25Φ或更大，在任何情况下均不可互用或直接对比。将视直径换算为筛析直径的方法很多，其中G.M.Friedman通过统计分析进行的线性回归换算较为简便、准确，任意粒度的回归换算方程为

沉积学原理

式中：D是换算后的筛析直径；d是薄片中测定的视长直径，均以Φ值计。经换算后，换算值同实际筛析值的平均直径最大偏差一般不超过0.25Φ，这个精度高于0.25Φ分组间隔，可满足一般沉积学研究。

对于切片视直径与真直径的对比，根据实验可知，等直径的球状**体的切面上所测得的视直径平均值为真直径的0.765倍，即在颗粒**体的切片中，颗粒视直径平均值小于真直径，这种现象称为切片效应。

（3）薄片粒度测量的要求

粒度测量是粒度分析的基础，故对其测量要求很高，而测量工作却非常烦琐、效率很低。薄片粒度分析是研究固结样品的唯一方法，可使用偏光显微镜和扫描电子显微镜。近年来出现的图像分析仪使薄片粒度分析基本实现自动化，效率大为提高。薄片统计数据为颗粒数。

在沉积环境研究中使用薄片粒度分析时，对岩石样品的基本要求是：砂岩中石英碎屑含量应大于70%，至少石英和长石含量要大于70%，溶蚀交代与次生加大现象越弱越好，切片方向可垂直层面或平行层面，随研究目的和要求的精度而定。在碳酸盐岩研究中，取样密度可达1点/cm，可平行纹层切片。测定时一般采用线计法抽取颗粒，凡在线上的颗粒都要测量，不能有任何主观取舍，每个薄片计200～500颗粒即可，碳酸盐岩需测1000颗粒以上。

在薄片内，需要测定多少颗粒才能代表全薄片的粒度分布，这在开始分析之前必须确定。测定的颗粒太少，不能代表薄片内的粒度分布；测定的颗粒太多，又会浪费时间，而且对精确度无所增益。根据砂岩样品的实验，分别测量100、200、300、400、500颗粒，绘制粒度累积频率曲线，从计数400颗粒起，粒度累积曲线的形状基本保持不变，因而可确定薄片内计数400～500颗粒是达到精度要求的最小计数。

薄片分析视直径换算成筛析直径时，还要考虑“杂基”的存在。薄片分析若不做杂基校正，往往无悬浮总体尾端，而是跳跃总体直接穿过3～4Φ的截点呈直线延伸，不出现转折，在平均值小于2Φ的中细砂岩、粉砂岩中经常出现这种情况，这是因为4～7Φ的颗粒细小，被测机会增多，或者全被归并到4.5Φ或5Φ的颗粒而造成细粒数增加，实质上是一种统计截尾效应（截尾点不同，其分布也不同）（图3-4）。

图3-4截尾效应

杂基校正的方法是将显微镜调至6Φ后测定或估计出杂基含量。薄片杂基量由于切片效应和成岩后生作用，值一般偏高，取其2/3～1/2为校正值，假定为Δ，将各累积频率乘以（100—Δ），重新绘一曲线。对于弱固结岩石，可用同一标本既做筛析，又做薄片分析，通过实验求出校正系数（100—Δ）的数值。

粒径分布图怎么分析

问题一：请问粒度分布图和分布表怎么分析？谢谢！一般粒度分析仪是通过代表性地扫描颗粒数目进行统计，图中蓝色曲线丁表每个粒度所占百分比，对应横坐标（粒度）和左边纵坐标（百分比）；红色曲线代表粒度的累积百分比，对应横坐标（粒度）和右边纵坐标（百分比）。从图中可以看出，此颗粒较细，主要集中在50微米到150微米之间。

问题二：粒度分布图数值怎样分析不知您的问题是不是用激光粒度仪测试后的测试报告中的具体数据代表什么意思，如果是的话我用图片给您解释一下，希望对您有所帮助。

不同仪器得出的测试报告虽然不是完全一致，但主要项还是一致的，我以济南微纳公司3003干法激光粒度仪的测试报告为例。

测试报告说明：

1.测试报告由6部分组成：表头、样品信息及测试信息、分析结果、图形、数据表、表尾。

2.量程：即测试范围，在软件的数据模板中选定。

3.分散介质：用于分散被测样品的介质。被测物质与分散介质不能发生化学反应，也不能在其中溶解。

4.分散剂：能够改变颗粒与液体之间的界面状态，促进颗粒充分分散的化学物质。

5.光学浓度：即遮光比。

6.样品浓度：即样品在分散介质中的体积百分比浓度，需要在系数校准设瞎如置中输入体积百分比计算系数后才能分析。

7.自由分布：由无约束自由拟合算法所得的样品本身固有的自然粒度分布。软件中还设有R-R分布和对数正态分布。

8.X10：颗粒累计分布为10%的粒径，即小于此粒径的颗粒体积含量占全部颗粒的10%。

9.X50：颗粒粒径分布为50%的粒径，即小于此粒径的颗粒体积含量占全部颗粒的50%。

10.X90：颗粒粒径分布为90%的粒径，即小于此粒径的颗粒体积含量占全部颗粒的90%。

11.Xav：颗粒群的平均粒径。

12.S/V：体积比表面积，即单位体积颗粒的表面积。

13.X[3，2]：表面积平均粒径，是粒径对表面积的加权平均，又称索太尔平均径。14.X[4，3]：体积平均粒径，是粒径对体积（或重量）的加权平均，同上述Xav。

15.拟合误差：能谱数据向粒度分布数据转换时产生的计算误差。

16.自定义项目分析结果：用户根据需要磨迹启自行添加的分析项目，添加该分析项目后，软件自动显示出结果。

17.粒度分布图表说明：

?横向是粒径值，该数值呈对数分布。

?左列是体积累计百分比，对应的是上升趋势的曲线图。

?右列是某一区间的体积百分比，对应的是起伏的直方图（或曲线图）。

18.数据列表是分析图表相对应的测试结果。

问题三：怎样形成粒径分布图测试报告说明： 1.测试报告由6部分组成：表头、样品信息及测试信息、分析结果、图形、数据表、表尾。 2.量程：即测试范围，在软件的数据模板中选定。 3.分散介质：用于分散被测样品的介质。被测物质与分散介质不能发生化学反应，也不能在其中溶

问题四：粒度分布曲线图有尖峰的曲线上的所有点，都代表那一粒度(横轴)的含量(左边纵轴)。

把下面数值在excel中做出来的图中，纵轴最大值定为13，尖峰就会有那么高了。

没有尖峰的曲线，叫“累积”线，是那点与小于那点含量的和，它用右边纵轴。d(0.5)是右边纵轴50与曲线交点，所对应的横轴；d(0.1)是右边纵轴10与曲线交点，所对应的横轴；d(0.9)是右边纵轴90与曲线交点，所对应的横轴。

问题五：如何用Origin统计粒径大小及分布 plot--statistic--histogram+probabilities，做好后双击统计柱形图，可以重新设置频数步长范围等州局，就可以得到你想要的结果（分析结果见生成的数据表）

问题六：如何用Origin统计粒径大小及分布数据放在一列，类型设置为Y

选中这列数据，plot选项卡---Statistics---Histogram（如果要画累积分布曲线则选择Histogram+Probabilities）

如果想看统计的数据则可以在Graph界面右键--got to bin worksheet（步长等可以自己设置）

问题七：粒度分布图求解这种粒度分布图好像不是汇美科气流筛分仪的，好像是激光粒度仪的测量结果。

问题八：粒度分布测量曲线如何解读告诉我你的邮箱，我给你一篇我写的“粒度基本知识”。其中，前两段就是介绍“粒度分布曲线”如何解读的。

OK，本文到此结束，希望对大家有所帮助。